產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
半導(dǎo)體封閉材料I-V/C-V測試系統(tǒng)，華測雙面點(diǎn)針探針臺(tái)可用于晶圓和PCB板測試，用于需要正面和背面同時(shí)扎針，以實(shí)現(xiàn)各種光/電性能測試需求的測試設(shè)備。
詳情介紹：
華測 雙面探針臺(tái)
型號(hào)：Huace-8D
一、產(chǎn)品介紹
華測雙面點(diǎn)針探針臺(tái)可用于晶圓和PCB板測試，用于需要正面和背面同時(shí)扎針，以實(shí)現(xiàn)各種光/電性能測試需求的測試設(shè)備。該定制探針臺(tái)具有優(yōu)良的機(jī)械系統(tǒng)，穩(wěn)定的結(jié)構(gòu)，符合人體工程學(xué)，以及多項(xiàng)升級功能?？蓮V泛應(yīng)用于集成電路、Wafer ， LED、LCD、太陽能電池等行業(yè)的制造和研究領(lǐng)域。
二、優(yōu)勢特點(diǎn)
華測系列探針臺(tái)可兼容高倍率金相顯微鏡，可微調(diào)移動(dòng) ； 可升級做射頻，大電流方面的測試和激光修復(fù)應(yīng)用
1、滿足I-V/C-V，PIV測試，光電測試等.
2、zui大可用于8英寸以內(nèi)樣品測試
3、同軸絲杠傳動(dòng)結(jié)構(gòu)，線性移動(dòng)
4、兼容高倍率金相顯微鏡，可微調(diào)移動(dòng)
5、可升級做射頻，大電流方面的測試和激光修復(fù)應(yīng)用
